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日本santec帶豐富濾鏡陣容的可編程光學(xué)濾鏡OTF-930 OTF-930是可變波長濾光片，可通過級聯(lián)多達(dá)3個具有各種濾光片配置文件（濾光片結(jié)構(gòu)S1，S2，S3）的光學(xué)濾光片，使您根據(jù)應(yīng)用選擇傳輸特性。它具有通過線性滑動方法可變的80 nm連續(xù)波長，低PDL（0.1 dB）和低PMD（0.1 ps）。另外，GPIB和RS-232C接口是標(biāo)準(zhǔn)配置，可以從外部進(jìn)行遠(yuǎn)程控制。
日本santec具有可變傳輸波長編程光學(xué)濾波器OTF-980 OTF-980具有C和L波段的寬帶波長可變范圍，并且具有三種類型的產(chǎn)品系列，具有不同的斜率形狀以傳輸帶寬。其中，Ultrafine-Plus型濾波器的斜率陡，為1000 dB / nm。此外，內(nèi)置的功率監(jiān)控器和出色的峰值搜索算法可以將濾波器中心波長自動設(shè)置為輸入信號波長。
日本santec尾纖光電探測器MPA-100 MPA-100是尾纖光電探測器陣列的機(jī)架安裝產(chǎn)品。監(jiān)視從MPO / MTP多核連接器輸入的多個光功率信號。您可以選擇檢測850 nm波長帶的硅類型和檢測1260至1610 nm波長帶的InGaAs型光學(xué)檢測器。
日本santec多端口光功率計適合評估光學(xué)組件MPM-210 / MPM-211、212、213 MPM-210非常適合多端口光學(xué)組件（例如波長選擇開關(guān)（WSS）和AWG模塊）的插入損耗和WDL / PDL測量。通過與配備有功率監(jiān)控器輸出的可變波長光源（TSL系列）結(jié)合使用，可以實(shí)時消除光源的光輸出波動，并可以進(jìn)行高精度的損耗測量。
日本santec可變波長光學(xué)元件掃描測試系統(tǒng) 通過結(jié)合可變波長光源（TSL系列），功率計（MPM），偏振控制單元（PCU-100）和定制軟件，在研發(fā)和生產(chǎn)線上對IL / WDL / PDL進(jìn)行有效的測量和評估你能行的。
